| dc.description.abstract | Behnken, Jacob C.; Boushek, Kevin M.; Enderle, Jason A.; Ewings, Christopher R.; Free, Joshua G.; Freese, Patrick S.; Gebert, Zachary A.; Georgson, Seth A.; Haasch, Nickolas P.; Hanson, Joshua J.; Herrmann, Noah J. Hoff, Joel A.; Koelpin, Stephen P.; Koepke, Michael W.; Laitinen, Daniel J.; Lewig, Daniel I.; Moldenhauer, Philip M.; Naumann, Daniel T.; Roloff, Brian J.; Schauland, Karl G.; Schlicht, Ryan R.; Schmidt, Brian J.; Schwartz, Jacob M.; Sellnow, Jasper B.; Sonntag, Jeffrey H.; Tembreull, Luke I.; Voss, Joel A.; Waldschmidt, Daniel W.; Zaferos, Peter G.; Italiano, Luke D.; Lindke, Andrew M.; Schafer, Newlin T.; Backus, David A.;De Gier, Andrew S.; Degner, Abram J.; Foxen, Benjamin A.; Kluender, Joel F.; McKenney, Joel A.; Phetsanghane,Souksamay K.; Schmoller, Nicolas C.; Timmermann, Nathaniel T.; Wahl, Timothy J.; West, Aaron J.; Bitter, Kyle D.; Bode, Seth D.; Dauck, Justin L.; Goetzinger, Harland H., III ; Hagen, Peter F.; Westendorf, Daniel J.; Zhao, Wei; Bartelt, Derek C.; Behm, Neal C.; Birkholz, Neil P.; Buch, Nathan M.; Buchner, Nathaniel R.; Buelow, Titus I. Chartrand, Evan S.; Fields, John T.; Gran, Justin H.; Moldenhauer, Nathan D.; Pappenfuss, Samuel E.; Raasch, John T.; Reichel, Benjamin D.; Rose, Frank A.; Rosenow, Timothy D.; Schreiner, Troy R.; Shinnick,Tyler J.; Starr, R. David; Waldschmidt, Steven L.; Walther, Nathaniel F.; Walther, Nathaniel F.; Wosje, Jeremy D.; Wrobel, Brian L. | en_US |
